Рентгеновские дифрактометры

Компактная SAXS система

Новый N8 HORIZON представляет компактную SAXS систему и является мощным инструментом для исследований различных нано-материалов, твердых объектов, слев, поверхностей и биологических образцов.

Преимущества

• Микроисточник IµSTM значительно увеличивает интенсивность излучения на образце
• Двумерный детектор V?NTEC-500TM нового поколения позволяет регистрировать даже слабые SAXS сигналы

D8 ENDEAVOR – это компактный автоматический порошковый дифрактометр для управления технологическим процессом и контроля качества продуктов производства. Применение дифрактометра D8 ENDEAVOR существенно сокращает время анализа и увеличивает пропускную способность лаборатории. С его помощью можно проводить качественный и количественный фазовый анализ, анализировать профиль пика.

Дифрактометр D8 ENDEAVOR может быть интегрирован в автоматизированную лабораторию с конвейерной или роботизированной пробозагрузкой. Удобный и большой магазин проб позволяет исследовать в рамках одной серии различные типы образцов: тонкие, малоразмерные, с неровной поверхностью, текстурированные, чувствительные к окружающей среде и т.д.

Дифрактометр D8 ENDEAVOR оснащен высокоскоростным многоканальным детектором LynxEye XE, что значительно увеличивает скорости проведения измерений.

Современное программное обеспечение TOPAS, основанное на методе Ритфельда, позволяет проводить безэталонный количественный фазовый анализ в автоматическом режиме.

Дифрактометр D8 ENDEAVOR предназначен для решения аналитических задач в цементной, алюминиевой, химической, горнодобывающей, фармацевтической промышленности.

• эффективно решает проблемы рентгеновской дифрактометрии на производстве
• в комбинации с рентгенофлуоресцентным спектрометром S8 TIGER может быть включен в автоматизированный лабораторный комплекс
• работает с разнообразными пробами в рамках одного измерительного цикла
• оборудован большим и быстродействующим накопителем проб
• может удаленно управляться по компьютерной сети
• обладает большим выбором конфигураций для решения разнообразных задач:
• регистрация по схеме Брэгга-Брентано
• высокоскоростной позиционно-чувствительный детектор LYNXEYE XE
• пакет программного обеспечения DIFFRACplus и программа TOPAS основанная на методе Ритфельда, для безэталонного количественного фазового анализа

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности

Дифрактометр D8 FABLINE специально разработан для контроля качества полупроводниковых пластин в полупроводниковой промышленности. Оснащенный сенсорным экраном вместе с удобным и гибким программным обеспечением, D8 FABLINE позволяет быстро и качественно решать задачи контроля качества в полупроводниковой промышленности.

• Исследование пластин размером от 6“ до 300 мм
• Горизонтальный прободержатель обеспечивает высокое быстродействие системы и исключает повреждение образца
• Интерфейс SECS/GEM позволяет интегрировать D8 FABLINE в систему управления технологическим процессом
• Автоматическое распознавание образов дает возможность проведения точных микроанализов
• D8 FABLINE может быть оснащен одиночным или сдвоенным встроенным FOUP-интерфейсом для загрузки пластин
• Сенсорный экран делает работу с системой более удобной

D8 ADVANCE – это самый современный, на сегодняшний день, лабораторный дифрактометр из представленных на рынке. D8 ADVANCE позволяет решать практически весь комплекс существующих задач в области порошковой дифрактометрии. В приборе реализована принципиально новая концепция построения модульных систем DAVINCI.DESIGN, которая существенно упрощает процесс конфигурирования дифрактометра. Переход от геометрии Брегга-Брентано к параллельно-лучевой оптике происходит максимально быстро благодаря новой рентгенооптической TWIN-системе, в которой совмещены традиционные щели и зеркало Гёбеля, переключение между которыми происходит автоматически. Новая рентгеновская TWIST-трубка позволяет осуществлять переключение между точечным и линейным фокусом.

Дифрактометр D8 ADVANCE дает возможность проводить исследования материалов в различных условиях: охлаждть до температуры 10 К, нагревать до 20000С, создавать условия с повышенной влажностью. При анализе в комнатных условиях специальные загрузчики образцов позволяют автоматизировать процесс измерения.

Важной составляющей частью современного дифрактометра является детектор. Решения от Bruker AXS включают в себя полный спектр точечных и позиционно-чувствительных детекторов, в том числе динамические сцинтилляционные детекторы, линейные детекторы LynxEye и LynxEye XE.

• Качественный и количественный анализ кристаллических фаз.
• Структурный анализ.
• Определение размеров кристаллитов.
• Анализ структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления с использованием соответствующих камер.
• Быстрый анализ с применением позиционно-чувствительного детектора.
• Автоматический режим сбора данных и дальнейшая обработка результатов программным пакетом DIFFRACplus

Дифрактометр для нанотехнологий

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру. D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

• Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок
• Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки
• Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов
• Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований
• Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев
• Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства
• Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения

D2 PHASER является одним из наиболее популярных дифрактометров в мире и применяется для решения большинства задач порошковой рентгенографии: качественного и количественного фазового анализа, определения параметров элементарной ячейки, определения размеров кристаллитов, степени кристалличности, микронапряжений.

Комбинация инновационных технологий позволила создать настольный дифрактометр, по аналитическим возможностям аналогичный стационарным лабораторным системам, который легко транспортируется и позволяет получить все преимущества порошковой дифрактометрии в отсутствие каких-либо дополнительных устройств.

Дифрактометр D2 PHASER построен по схеме вертикальной геометрии Брэгга-Брентано и состоит из ультракомпактного гониометра, рентгеновской трубки, высоковольтного генератора, систем формирования рентгеновского пучка и высокоскоростного полупроводникового детектораLYNXEYE.

Стандартная рентгеновская трубка работает на 1/6 номинальной мощности, охлаждается встроенной системой водяного охлаждения и поэтому имеет практически неограниченный срок службы. Дифрактометр D2 PHASER является полностью автономным прибором, для его работы не требуется дополнительный компьютер или система внешнего водяного охлаждения, необходимо только подключение к сети переменного тока.
Прибор может быть установлен вне лаборатории на обычном столе, управляется мощным встроенным компьютером, который служит не только для получения дифракционных данных, но и для их обработки и интерпретации.

В середине 2015 года компания Bruker AXS выпустила на рынок второе поколение D2 PHASER с улучшенными точностью и производительностью. Дифрактометр D2 PHASER второго поколения может быть дополнительно оснащен карусельным пробозагрузчиком, который позволяет одновременно анализировать до шести проб.

Поставляемое с прибором обновленное программное обеспечение DIFFRAC.SUITE полностью совместимо с предыдущими версиями ПО дифрактометров Bruker AXS, программой бесстандартного количественного фазового и структурного анализа TOPAS и базами порошковых данных ICDD.

• Компактный и простой в управлении прибор.
• Наличие встроенного компьютера.
• Быстрый анализ с применением позиционно-чувствительного детектора LYNXEYE.
• Новейшее программное обеспечение DIFFRAC.SUITE.
• Большой набор прободержателей.
• Качественный и количественный анализ кристаллических фаз.
• Структурный анализ.
• Определение размеров кристаллитов.
• Анализ микронапряжений.