+7 (347) 226-18-63

+7 (919) 140-09-78

Заказать звонок

Заказ звонка

Ваша заявка принята

Мы свяжемся в Вами в течение 15 минут

Каталог
В сравнении нет товаров
В закладках нет товаров
В корзине нет товаров
1

В корзине нет товаров

Материалография и пробоподготовка

Сканирующий электронный микроскоп Verios

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп SM-50

0 руб

Описание
SM-50 - это многофункциональный сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения с полевой эмиссией.
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп SM-32

0 руб

Описание
Сканирующий электронный микроскоп SM-32 — высокопроизводительный прибор, созданный для решения задач академических и промышленных лабораторий, где первостепенное значение имеют простота использования и доступность всех возможностей системы для операторов любого уровня подготовки.
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп SM-20

0 руб

Описание
SM-20 — микроскоп нового поколения, всегда готовый к работе, подходящий даже для пользователей, мало знакомых с СЭМ.
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Quanta 250

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Qemscan 650 FEG

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Qemscan 650

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Phenom XL

0 руб

Описание
Phenom XL - настольный сканирующий электронный микроскоп с большим столом
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Phenom Pure

0 руб

Описание
Экономичное решение, позволяющее получать изображения с высоким разрешением. Максимальное увеличение 30000х; разрешение 30 нм; ускоряющее напряжение 5 кВ.
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Phenom ProX

0 руб

Описание
микроскоп с ЭДС микроанализом. Максимальное увеличение 130 000х; разрешение 10 нм; ускоряющее напряжение 5, 10, 15 кВ.
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Phenom Pro

0 руб

Описание
технически оснащенная и совершенная модель для высокотребовательных профессионалов. Максимальное увеличение 130 000х; разрешение 10 нм; ускоряющее напряжение 5, 10 кВ.
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп FEI Quanta 650

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий электронный микроскоп Apreo

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий микроскоп FEI MLA 650 FEG

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Сканирующий микроскоп FEI MLA 650

0 руб

Описание
Электронные микроскопы компании FEI обеспечивают максимальную разрешающую способность, универсальность характеристик и широкий спектр возможностей по дооснащению различным дополнительным оборудованием
Полное описание
notify_thumb
Просвечивающий микроскоп Titan

0 руб

Описание
Просвечивающий электронный микроскоп Titan находится на самом острие возможностей по разрешающей способности и обладает максимально возможными характеристиками.
Полное описание
notify_thumb
Просвечивающий микроскоп Talos

0 руб

Описание
Просвечивающий электронный микроскоп Talos является идеальным выбором для углубленной научно-исследовательской работы
Полное описание
notify_thumb
Прибор для корреляционной микроскопии CorrSight

0 руб

Описание
CorrSight обеспечивает высокую степень автоматизации рабочего процесса и полную интеграцию различных платформ визуализации.
Полное описание
notify_thumb
Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM18

0 руб

Описание
ZEM18 - настольный сканирующий электронный микроскоп с расширенным диапазоном укоряющего напряжения с верхней границей в 18 кВ, что позволяет получать более точные результаты по элементному анализу тяжелых элементов.
Полное описание
notify_thumb
Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM15

0 руб

Описание
ZEM15 - настольный сканирующий электронный микроскоп, позволяющий проводить анализ образцов с высоким увеличением и разрешением, а также осуществлять сбор данных об их элементном составе.
Полное описание
notify_thumb
Настольный сканирующий электронный микроскоп ZEM 20

0 руб

Описание
ZEM20 – передовая модель настольного сканирующего электронного микроскопа от компании Zeptools, получившая множество дополнительных опций для расширения функциональных возможностей.
Полное описание
notify_thumb
Напылительные установки VPI

0 руб

Описание
Напылительные установки VPI идеально подходят для пробоподготовки образцов для электронной микроскопии благодаря быстрому, точному, простому и понятному процессу нанесения тонких пленок.
Полное описание
notify_thumb
Ионный микроскоп Vion Plasma FIB

0 руб

Описание
Vion Plasma FIB позволяет проводить, как достаточно точные поперечные сечения, так и сечения огромных размеров – несколько сотен микрон, при этом за достаточно короткое время.
Полное описание
notify_thumb
Ионный микроскоп V400ACE FIB

0 руб

Описание
В данной модели используется ионная пушка на основе ионов галлия (Ga+), позволяющих проводить прецизионные и чистые поперечные срезы (Cross Section)
Полное описание
notify_thumb