Анализаторы химического состава металлов и сплавов

ИНЕРТА 50 - установка для очистки (доочистки) инертных газов (аргона, неона, гелия, криптона, ксенона) от кислорода, водорода, азота, углеводородов, угарного и углекислого газов, а так же влаги. В основу работы устройства очистки аргона и других инертных газов «Инерта 50» положен процесс высокотемпературного разрушения кислородсодержащих, водородсодержащих, а так же углеродо- и азотсодержащих соединений с их последующим поглощением активированными температурой сорбентами и молекулярными ситами.
Устройство предназначено для подготовки газов, используемых в технологических установках и помещениях, герметичных камерах (боксах), газовых хроматографах, эмиссионных и абсорбционных спектрометрах и другой исследовательской и производственной аппаратуре с высокими требованиями к качеству инертного газа, используемого в качестве: защитной среды плазмообразующего, пробонесущего или защитного газа.

Очистка аргона и других инертных газов

ИНЕРТА 50 обеспечивает глубокую степень очистки инертных газов (Аргон, Гелий, Неон, Криптон) благодаря высокоэффективной трехстадийной системе поглощения примесных веществ. Остаточный уровень загрязнений инертного газа на выходе - менее 1 ppm.
Существует возможность поставки ИНЕРТА 50 в исполнении для очистки азота. В этом случае картридж поглотитель, отвечающий за очистку газа от азота и кислорода заменяется на картридж-поглотитель, очищающий газ только от кислорода.

• Высокая надежность благодаря конструкции с традиционным для отечественной техники 'запасом прочности' по всем системам.
• Автоматическая защита от нештатных ситуаций вследствие ошибок оператора, разгерметизации входной или выходной магистралей, обесточивание питающей сети и других нештатных ситуаций.
• Компактная напольная конструкция с колесными опорами и эргономичным расположением органов управления.
• Индикация всех рабочих режимов на встроенном высококонтрастном дисплее.
• Большой ресурс картриджей с сорбентами с автоматическим учетом ресурса по объему и качеству очищенного газа.
• Малый срок поставки.
• Не требует выезда специалиста для проведения пуско-наладочных работ.
• Легкозаменяемые расходные картриджи-поглотители.
• Разумная начальная стоимость и экономичность в эксплуатации благодаря большому ресурсу картриджей с сорбентами.
• Низкий уровень теплопотерь.
• Комплектуется колесами для удобства перемещения и ножками для стационарной установки.

Изначально спектрограф 1S2133 проектировался нами при разработке спектрометра СПАС-02. Прибор получился очень удачным. С высокой светосилой, широким спектральным диапазоном (одним из лучших среди спектральных приборов данного класса), высокой температурной стабильностью, а также с хорошим потенциалом для дальнейшего совершенствования.
При разработке спектрометра Искролайн-100 спектрограф 1S2133 претерпел ряд изменений, которые можно было бы назвать незначительными, если бы они не улучшали характеристики прибора. Был модифицирован узел входной щели. Претерпели изменения устройства, удерживающие линейные ПЗС-детекторы. Усовершенствована методика установки и юстировки самих детекторов. Осуществлены и другие конструктивно-технологические изменения. Были использованы более современные материалы. Стали применяться дифракционные решетки специально оптимизированные для повышения светосилы прибора в коротковолновой области длин волн (в первую очередь это улучшает показатели по таким элементам, как сера, фосфор, углерод).

Технология изготовления и настройки прибора позволяет достичь значений, приближающихся к теоретически возможным. И эта же технология в совокупности с используемыми материалами, обеспечивает исключительную температурную стабильность, причем без использования специализированных систем температурной стабилизации. При изменении температуры в помещении на 10 градусов, остаточный дрейф спектра не превышает 0,015 нм. Это очень-очень мало. Но даже этот незначительный уход учитывается программным обеспечением без вмешательства оператора.
Для обеспечения наилучшей чувствительности в коротковолновой области спектра, в приборе поддерживается вакуум не хуже 200 мкБар (2?10^-4атм).

Возможные модификции:

Воздушный:
отличается спектральным диапазоном: 185-443 нм, а также значительно меньшим весом, так как тяжелый вакуумный кожух заменен на лёгкий герметичный.

С расширенным спектральным диапазоном: В этом приборе используется 9 ПЗС-детекторов. Благодаря этому рабочий спектральный диапазон увеличен в «красную» область и стал 174-513 нм без ухудшения спектрального разрешения.

С расширенным спектральным разрешением:
спектральное разрешение 0,015-0,03 нм (средняя обратная линейная дисперсия 1,12 нм/мм). В данном приборе используются также 9 линейных ПЗС-детекторов в совокупностью с дифракционной решеткой с большим числом штрихов на мм.

С расширенным в далекую ВУФ-область диапазоном:спектральный диапазон расширен в область далекого вакуумного ультрафиолета и составляет 130-443 нм.9 ПЗС-детекторов. Улучшенный вакуум. Оптические элементы (линзы, стекла), пропускающие «жесткий» ультрафиолет.**

* область наилучшей фокусировки спектра имеет форму круга, а ПЗС детекторы плоские. Поэтому их невозможно настроить так, чтоб спектр был в фокусе по всей длине детектора. Но можно сделать так, чтоб подавляющая часть спектра имела наилучшее разрешение. Это и было сделано. В результате, большая часть спектра прибора имеет разрешение 0,020 — 0,025 нм. И только в районе стыковок между соседними детекторами разрешение падает до 0,03 — 0,04 нм.
** Эта модификация спектрографа находится в стадии тестирования и в серийные приборы пока не устанавливается.

QUANTAX EDS – СИСТЕМА ЭНЕРГОДИСПЕРСИОННОГО МИКРОАНАЛИЗА

• Адаптирована под все типы и марки электронных микроскопов.
• Широкая линейка SDD-детекторов XFlash площадью 10, 30, 60 и 100 мм2.
• Специальные модели SDD-детектора: XFlash 6T для просвечивающих микроскопов и плоский детектор XFlash 5060F, размещающийся непосредственно под электронным пучком.
• Самая высокая на рынке скорость счета SDD-детектора: входная – более 1 500 000 имп/с, выход- ная – более 600 000 имп/с для быстрого и точного элементного анализа.
• Лучшее энергетическое разрешение — 121 эВ на линии Mn K? при скорости счета 100 000 имп/с.
• Наименьшее расстояние образец — детектор для большего телесного угла благодаря технологии Slim-line.
• Компактная и легкая конструкция SDD-детектора (масса менее 3,75 кг) снижает нагрузку на колонну микроскопа.
• Высокоточное позиционирование SDD-детектора с регулируемым наклоном внутри камеры микроскопа благодаря полностью моторизованному приводу.
• Возможность проводить расчет содержаний с помощью комбинации эталонного и безэталон- ного способа анализа.

QUANTAX MICRO-XRF – СИСТЕМА МИКРОРЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА

• Сочетание микрофокусной рентгеновской трубки с поликапиллярной рентгеновской оптикой и системой регистрации рентгенофлуоресцентного спектра QUANTAX EDS позволяет создать на базе сканирующего электронного микроскопа полноценный микрорентгенофлуоресцент- ный спектрометр.
• Чувствительность микрорентгенофлуоресцентного метода в сравнении с электронным ис- точником возбуждения в 20–50 раз лучше в области средних и тяжелых химических элементов с пределом обнаружения до 10 ppm.
• Программа ESPRIT позволяет провести вычисление концентраций, полученных с помощью электронного микроскопа и QUANTAX Micro-XRF, в одном интерфейсе для уточнения оконча- тельного результата.

QUANTAX EBSD – СИСТЕМА ДИФРАКЦИИ ОБРАТНО РАССЕЯННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

• Быстрое картирование и получение результатов одновременно по элементному составу с по- мощью EDS и кристаллической структуре и текстуре с помощью EBSD с быстродействием до 930 точек/с.
• Серия детекторов дифракции обратно рассеянных электронов e-Flash EBSD с вертикальным позиционированием для получения наилучшего EBSD-сигнала.
• Скорость картирования ориентации кристаллитов – 630 точек/с (сортировка 4 x 4) или 930 точек/с (сортировка 8 x 8) с помощью детектора e-Flash1000.
• Сбор карт с высоким разрешением с помощью e-FlashHR, предоставляющего снимки образцов с разрешением до 1600 x 1200 точек. Скорость сбора 140 точек/с (сортировка 10 x 10) и 170 то- чек/с (сортировка 20 x 20). Также поддерживаются измерения при низком ускоряющем напряжении (до 5 кВ) и низких токах пучка (до 0,1 нА).
• Направляющее устройство с точностью позиционирования на люминесцентном экране <10 мкм.
• Уникальная функция автоматического отвода детектора после завершения измерения.

QUANTAX WDS – СИСТЕМА ВОЛНОДИСПЕРСИОННОГО МИКРОАНАЛИЗА

• Современная волнодисперсионная оптическая система с автоматической настройкой и юсти- ровкой.
• Конструкция по принципу «параллельного пучка» с коллимирующей оптикой скользящего па- дения, позволяющая получить наилучшее энергетическое разрешение в длинноволновой об- ласти энергий.
• Энергетическое разрешение 4,6 эВ на линии Si K?, что примерно на порядок лучше в сравне- нии с EDS-системой.
• Диапазон измеряемых спектрометром энергий — от 100 эВ до 3600 эВ.
• Выбор из 6 кристаллов-анализаторов для оптимального решения задачи: многослойные 200 ? (Be, B), 80 ? (C, N), 60 ? (400 – 950 эВ), 30 ? (500 – 2000 эВ), TAP (500 эВ – Si K?) и PET (Si K? – 3600 эВ).
• Измерение в каждой точке на образце и расчет содержаний возможны с помощью и EDS-, и WDS-метода в одном окне программы ESPRIT.